AVS 60th International Symposium and Exhibition | |
Atom Probe Tomography Focus Topic | Tuesday Sessions |
Session AP+AS+SS-TuA |
Session: | Microstructural and Interface Analysis of Metals Subjected to Various Conditions |
Presenter: | L. Rigutti, Groupe de Physique des Matériaux, France |
Authors: | L. Rigutti, Groupe de Physique des Matériaux, France I. Blum, Groupe de Physique des Matériaux, France D. Shinde, Groupe de Physique des Matériaux, France D. Hernandez Maldonado, Groupe de Physique des Matériaux, France W. Lefebvre, Groupe de Physique des Matériaux, France J. Houard, Groupe de Physique des Matériaux, France A. Vella, Groupe de Physique des Matériaux, France F. Vurpillot, Groupe de Physique des Matériaux, France M. Tchernycheva, Institut d'Electronique Fondamentale, France C. Durand, CEA/CNRS/Université Joseph Fourier, France J. Eymery, CEA/CNRS/Université Joseph Fourier, France B. Deconihout, Groupe de Physique des Matériaux, France |
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